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一. 光譜干擾
1. 在測(cè)定波長(zhǎng)附近有單色器不能分離的待測(cè)元素的鄰近線 ——減小狹縫寬度
2. 燈內(nèi)有單色器不能分離的非待測(cè)元素的輻射 ——高純?cè)責(zé)?/SPAN>
3. 待測(cè)元素分析線可能與共存元素吸收線十分接近——另選分析線或化學(xué)分離
二. 電離干擾
待測(cè)元素在高溫原子化過(guò)程中因電離作用而引起基態(tài)原子數(shù)減少的干擾（主要存在于火焰原子化中）
電離作用大小與：
①待測(cè)元素電離電位大小有關(guān)——一般：電離電位< 6 eV ， 易發(fā)生電離
②火焰溫度有關(guān)——火焰溫度越高↑，越易發(fā)生電離↑
消除方法： ⑴ 加入大量消電離劑，如 NaCl、KCl、CsCl 等；
⑵控制原子化溫度。
三. 化學(xué)干擾
待測(cè)元素不能從它的化合物中全部離解出來(lái)或與共存組分生成難離解的化合物氧化物、氮化物、氫氧化物、碳化物等。
抑制方法：
①加釋放劑 與干擾組分形成更穩(wěn)定的或更難揮發(fā)的化合物，使待測(cè)元素釋放出來(lái)
（如：La、Sr、Mg、Ca、Ba 等的鹽類及 EDTA 等）
例如：PO43- 干擾 Ca 的測(cè)定2CaCl2 + 2H3PO4 = Ca2P2O7 + 4HCl + H2O
若在Ca2+溶液中加入釋放劑 LaCl3 , 則 LaCl3 + H3PO4 = LaPO4 + 3HCl
因?yàn)?/SPAN>LaPO4的熱穩(wěn)定性高于Ca2P2O7，所以相當(dāng)于從Ca2P2O7中釋放出Ca。
②加保護(hù)劑：與干擾元素或分析元素生成穩(wěn)定的配合物避免分析元素與共存元素生成難熔化合物
如：8-羥基喹啉可用于抑制 Al 對(duì) Ca、Mg 測(cè)定的干擾Co、Ni、Cu 對(duì) Fe測(cè)定的干擾；EDTA 可消除 Se、Te、B、Al、Si、磷酸鹽、碳酸鹽對(duì)Ca、Mg 測(cè)定的干擾。
四. 物理干擾：由于溶質(zhì)或溶劑的性質(zhì)（粘度、表面張力、蒸汽壓等）發(fā)生變化使噴霧效率及原子化程度變化的效應(yīng)（使結(jié)果偏低）
抑制方法： ①標(biāo)準(zhǔn)加入法（基體組成一致）；
②加入表面活性劑（0.5% HNO3 + 0.5% triton 100）；
五. 背景吸收
原子化器中非原子吸收的光譜干擾。
①分子吸收（火焰中難熔鹽分子和氣體分子）
②固體或液體微粒對(duì)光的散射和折射作用
有關(guān)因素：l、基體元素的濃度、火焰條件、原子化方法(石墨爐法大于火焰法)等
減小方法： ①氘燈自動(dòng)扣背景校正裝置（190~350 nm）
兩個(gè)光源——空心陰極燈和 D2 燈
一個(gè)切光器
二次測(cè)量——
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圖6 氘燈背景校正原理圖
氘燈自動(dòng)背景校正原理：
氘燈發(fā)射的連續(xù)光譜經(jīng)過(guò)單色器的出光狹縫后，出射帶寬約為 0.2nm 的光譜通帶（帶寬取決于狹縫寬度和色散率）；空心陰極燈發(fā)射線的寬度一般約為0.002nm；
測(cè)量前調(diào)制：
ID=I空 （此時(shí)△A=0）
在測(cè)定時(shí)，如果待測(cè)元素原子產(chǎn)生一正常吸收，則
(14)
從連續(xù)光源氘燈發(fā)出的輻射 ID 在共振線波長(zhǎng)處也被吸收，但由于所觀察的譜帶寬度至少有0.2nm ，因此，在相應(yīng)吸收線處寬度約為 0.002nm 的輻射即使被 100% 吸收最多也只占輻射強(qiáng)度的 1% 左右，故可忽略不計(jì)；因此：
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局限性：①氘燈與空心陰極燈光源二束光在原子化器中的嚴(yán)格重疊(平行)很難調(diào)整；
②氘燈測(cè)得的是光譜通帶內(nèi)的平均背景，與分析線真實(shí)背景有差異。
2. 塞曼效應(yīng)校正法
塞曼效應(yīng)——將光源置于強(qiáng)大的磁場(chǎng)中時(shí)，光源發(fā)射的譜線在強(qiáng)磁場(chǎng)作用下，因原子中能級(jí)發(fā)生分裂而引起光譜線分裂的磁光效應(yīng)塞曼效應(yīng)背景校正比氘燈連續(xù)光源背景校正優(yōu)越，可在各波長(zhǎng)范圍內(nèi)進(jìn)行，背景校正的準(zhǔn)確度高。
但僅限于石墨爐法，結(jié)果較理想，且測(cè)定靈敏度低。
