手機版
在日常色譜定量分析中，出現(xiàn)色譜峰形異變或鬼峰，不但嚴重影響定量精度，甚至使分析工作無法進行，今天和大家一起把峰形異變常見類型加以分析，并給出可能原因。
我們在此討論的峰形異變是指在色譜分析方法確定后，與曾經記錄的已知色譜圖比較時，出現(xiàn)某些色譜峰形的偏離畸變或多余峰。
或者說，對于一已經設立好的色譜分析方法，由于不要求或出于無奈時有些峰分離不開、拖尾或峰形不對稱等并不影響方法的實施情況，不屬于上述因儀器故障、經驗不足或操作失誤造成的峰形異變。
否則需要重新審定或修改原來的分析方法。另外，還應指出：由于安裝使用沒有評價過的色譜柱可能出現(xiàn)的峰形拖尾，分離不好或峰形畸變，也不屬于討論內容。顯然叫一個普通色譜分析工作者，在常規(guī)工作條件下去判斷色譜柱的優(yōu)劣，要求似乎高了一些。
在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前最好先做以下工作：
仔細核查操作條件，與分析方法要求是否一致；
和當初分析所存的標準色譜圖對照，判斷是否真出了問題；
逐項仔細觀察儀器或設備工作狀態(tài)，看有無操作失誤而引起的出峰失常；
然后在依據(jù)以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。
臺階峰
(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；
(2)氣體流量突變如：注射墊突然漏氣，氣路受阻等；
(3)記錄色譜峰裝置故障如：拉線松；
負峰
(1)TCD用氮做載氣，由于待測組分在N2中濃度不同，熱傳導值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負峰,有時可以通過改變載 氣流量或進樣量克服；
(2)操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉變?yōu)殡婋x檢測，此時靈敏度還會大大降低；
(3)操作FID，低電離效率的溶劑(如，CS2)或雜質出現(xiàn)，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰；
(4)操作FID，在無極化電壓，樣品量較大可能出現(xiàn)負峰；
(5)操縱NPD、FPD時氣流比不合適，溶劑或某些組分會出現(xiàn)負峰；
“N”或“W”形峰
(1)TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導率非線性引起；
(2)FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如，CS2)，或氣流比欠佳時；
(3)ECD操作時，由于檢測器被污染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈沖電源有毛��；
前沿峰
(1)汽化溫度偏低；
(2)載氣流量��；
(3)進樣量大，汽化時間長；
(4)汽化室被污染，樣品有吸附效應；
(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；
(6)進樣技術差(揮發(fā)性組分的進樣速度太慢)；
(7)峰前出現(xiàn)了“鬼”峰；
拖尾峰
(1)色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；
(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；
(3)汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進入色譜柱；
(4)化室的溫度低或偏高；
(5)載氣流量偏低；
(6)進樣量大；
(7)載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣；
(8)進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣污染；
(9)色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點污染物作用；
(10)補充氣未開或偏低；
(11)色譜柱溫度偏低或失效；
(12)甲烷化Ni催化劑失效；
(13)進樣技術差(如速度不合適);
(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針)；
(15)無極化電壓(FID)，此時伴隨靈敏度偏低；
(16)樣品前處理有毛��；
出峰后基線下移
(1)樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態(tài)；
(2)FID被污染狀況發(fā)生改變，或氣流比發(fā)生變化；
(3)系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣，或出現(xiàn)堵塞；
(4)色譜柱被污染；
(5)樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發(fā)生作用；
程序升溫時基流增加(漂移大)，噪聲增加
(1)色譜柱需重新老化或失效；
(2)新?lián)Q載氣純度欠佳；
(3)過濾器失效；
(4)樣品前處理不當，如：雜質干擾物太多；
(5)靈敏度太高；
(6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設置不合理；
圓頂寬峰
(1)樣品量大起出了色譜柱容量；
(2)汽化溫度低；
(3)色譜柱沒按要求安裝；
(4)檢測器工作狀態(tài)不對，如載氣太小、沒開補充氣；
(5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設置偏大；
平頂峰（未到滿量程）
(1)樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號輸出飽和；
(2)檢測器已工作在飽和區(qū)；
(3)數(shù)據(jù)處理輸入信號極性接錯，或零點失調；
10.基線出現(xiàn)波浪狀峰：
(1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前；
(2)操作TCD、ECD時，柱箱或檢測器箱溫度周期變；
(3)環(huán)境溫度對儀器控溫影響；
(4)電壓不穩(wěn)，對柱溫控制精度影響；
(5)過溫保護設置低于控制溫度；
(6)壓力(流量)調節(jié)閥失調，周期變化；
原來能分開的峰分不開
(1)色譜柱安裝不合要求；
(2)色譜柱被污染，需重新活化；
(3)色譜柱壽命已到，需更換；
(3)新更換的氣源，純度不佳；
(4)濾器失效，重新老化或更換；
(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調優(yōu)化(色譜分析一般允許)；
(6)檢測器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳)；
(7)汽化室被污染，注射墊漏氣；
(8)樣品處理不當，雜質干擾物太多；
(9)樣技術太差；
(10)進樣量超出了色譜柱容量；
(11)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，半峰寬或斜率設置不合理；
(12)放大器量程或衰減設置失誤；
直角峰
(1)儀器輸出負信號超出了數(shù)據(jù)處理的范圍；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置零點未校正，或量程設置太大無法判斷基線位置；
(3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號極性接反，零點設置不對；
帶毛刺峰
(1)儀器工作不穩(wěn)定，噪聲大于要求；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)，半峰寬和斜率設置太小；
(3)極化電壓(FID)不穩(wěn)；
操作條件未變，原來能判別的峰不見了
(1)色譜柱被污染或失效；
(2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低，過濾器失效)；
(3)注射墊漏氣；
(4)注射針密封性差；
(5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，如：半峰寬和斜率設置偏大；
(6)進樣方法不對；
“鬼峰”(怪峰，多余峰，記憶峰)
(1)上一次進樣的高沸點雜質峰自然流出；
(2)載氣不純過濾器失效使低沸點的污染物冷凝在色譜柱頭，程序升溫時正常流出；
(3)注射墊未經老化或無隔墊清洗而出的污染峰；
(4)汽化溫度太高或嚴重污染至使樣品某些組分分解；
(5)樣品某些組分與被污染固定相產生了作用；
(6)色譜柱溫度太高固定相分解；
(7)使用了被污染的注射針( 本身不合格，手摸或進過易污染的樣品)；
(8)樣品予處理不完善或用錯溶劑；
(9)樣品中有空氣；
(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣)；
(11)電源不穩(wěn)，對控溫或放大器有不良影響；
(12)色譜柱堵塞物使用不當，如玻璃棉未按要求進行處理。
文章（文字）來源：網(wǎng)絡
我們在此討論的峰形異變是指在色譜分析方法確定后，與曾經記錄的已知色譜圖比較時，出現(xiàn)某些色譜峰形的偏離畸變或多余峰。
或者說，對于一已經設立好的色譜分析方法，由于不要求或出于無奈時有些峰分離不開、拖尾或峰形不對稱等并不影響方法的實施情況，不屬于上述因儀器故障、經驗不足或操作失誤造成的峰形異變。
否則需要重新審定或修改原來的分析方法。另外，還應指出：由于安裝使用沒有評價過的色譜柱可能出現(xiàn)的峰形拖尾，分離不好或峰形畸變，也不屬于討論內容。顯然叫一個普通色譜分析工作者，在常規(guī)工作條件下去判斷色譜柱的優(yōu)劣，要求似乎高了一些。
在懷疑峰形異變尋找可能原因、排除方法之前最好先做以下工作：
仔細核查操作條件，與分析方法要求是否一致；
和當初分析所存的標準色譜圖對照，判斷是否真出了問題；
逐項仔細觀察儀器或設備工作狀態(tài)，看有無操作失誤而引起的出峰失常；
然后在依據(jù)以下15種異常峰形分析可能原因與排除方法。
臺階峰
(1)TCD熱絲被樣品中所含鹵素、氧、硫等元素腐蝕；
(2)氣體流量突變如：注射墊突然漏氣，氣路受阻等；
(3)記錄色譜峰裝置故障如：拉線松；
負峰
(1)TCD用氮做載氣，由于待測組分在N2中濃度不同，熱傳導值呈現(xiàn)非線性而可能出現(xiàn)負峰,有時可以通過改變載 氣流量或進樣量克服；
(2)操作ECD時進樣量過大而出負峰，這是由于工作原理由電子捕獲轉變?yōu)殡婋x檢測，此時靈敏度還會大大降低；
(3)操作FID，低電離效率的溶劑(如，CS2)或雜質出現(xiàn)，使原基流較高的輸出基線減小而顯示為負峰；
(4)操作FID，在無極化電壓，樣品量較大可能出現(xiàn)負峰；
(5)操縱NPD、FPD時氣流比不合適，溶劑或某些組分會出現(xiàn)負峰；
“N”或“W”形峰
(1)TCD操作，用N2作載氣由于熱傳導率非線性引起；
(2)FID操作時，樣品溶劑電離效率低(如，CS2)，或氣流比欠佳時；
(3)ECD操作時，由于檢測器被污染，溶劑峰或待測組分含量較高，或脈沖電源有毛��；
前沿峰
(1)汽化溫度偏低；
(2)載氣流量��；
(3)進樣量大，汽化時間長；
(4)汽化室被污染，樣品有吸附效應；
(5)樣品在柱頭有冷凝或色譜柱被污染；
(6)進樣技術差(揮發(fā)性組分的進樣速度太慢)；
(7)峰前出現(xiàn)了“鬼”峰；
拖尾峰
(1)色譜柱安裝不合格，樣品不能以“塞子”形進入色譜柱，柱與檢測器安裝的死體積太大；
(2)樣品未能注射入柱頭中(柱頭進樣方式)；
(3)汽化管沒有安裝好或破損，樣品只能脫尾進入色譜柱；
(4)化室的溫度低或偏高；
(5)載氣流量偏低；
(6)進樣量大；
(7)載氣系統(tǒng)(如注射墊處)有漏氣；
(8)進樣器(汽化室)，被樣品中高沸點雜質或注射墊殘渣污染；
(9)色譜柱被污染至使被分析組分和高沸點污染物作用；
(10)補充氣未開或偏低；
(11)色譜柱溫度偏低或失效；
(12)甲烷化Ni催化劑失效；
(13)進樣技術差(如速度不合適);
(14)正好有干擾峰(鬼峰)出現(xiàn)(如誤用被污染的注射針)；
(15)無極化電壓(FID)，此時伴隨靈敏度偏低；
(16)樣品前處理有毛��；
出峰后基線下移
(1)樣品量大，特別是溶劑改變了工作狀態(tài)；
(2)FID被污染狀況發(fā)生改變，或氣流比發(fā)生變化；
(3)系統(tǒng)出現(xiàn)漏氣，或出現(xiàn)堵塞；
(4)色譜柱被污染；
(5)樣品處理不當，如：樣品中有些物質和固定相發(fā)生作用；
程序升溫時基流增加(漂移大)，噪聲增加
(1)色譜柱需重新老化或失效；
(2)新?lián)Q載氣純度欠佳；
(3)過濾器失效；
(4)樣品前處理不當，如：雜質干擾物太多；
(5)靈敏度太高；
(6)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)設置不合理；
圓頂寬峰
(1)樣品量大起出了色譜柱容量；
(2)汽化溫度低；
(3)色譜柱沒按要求安裝；
(4)檢測器工作狀態(tài)不對，如載氣太小、沒開補充氣；
(5)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)(半峰寬)設置偏大；
平頂峰（未到滿量程）
(1)樣品量大，放大器量程高，衰減大，信號輸出飽和；
(2)檢測器已工作在飽和區(qū)；
(3)數(shù)據(jù)處理輸入信號極性接錯，或零點失調；
10.基線出現(xiàn)波浪狀峰：
(1)高靈敏度操作儀器未穩(wěn)定之前；
(2)操作TCD、ECD時，柱箱或檢測器箱溫度周期變；
(3)環(huán)境溫度對儀器控溫影響；
(4)電壓不穩(wěn)，對柱溫控制精度影響；
(5)過溫保護設置低于控制溫度；
(6)壓力(流量)調節(jié)閥失調，周期變化；
原來能分開的峰分不開
(1)色譜柱安裝不合要求；
(2)色譜柱被污染，需重新活化；
(3)色譜柱壽命已到，需更換；
(3)新更換的氣源，純度不佳；
(4)濾器失效，重新老化或更換；
(5)色譜柱溫度和載氣流量需要微調優(yōu)化(色譜分析一般允許)；
(6)檢測器工作狀態(tài)變化(如ECD漏氣、FID氣流比欠佳)；
(7)汽化室被污染，注射墊漏氣；
(8)樣品處理不當，雜質干擾物太多；
(9)樣技術太差；
(10)進樣量超出了色譜柱容量；
(11)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，半峰寬或斜率設置不合理；
(12)放大器量程或衰減設置失誤；
直角峰
(1)儀器輸出負信號超出了數(shù)據(jù)處理的范圍；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置零點未校正，或量程設置太大無法判斷基線位置；
(3)數(shù)據(jù)處理裝置輸入信號極性接反，零點設置不對；
帶毛刺峰
(1)儀器工作不穩(wěn)定，噪聲大于要求；
(2)數(shù)據(jù)處理裝置的判峰參數(shù)，半峰寬和斜率設置太小；
(3)極化電壓(FID)不穩(wěn)；
操作條件未變，原來能判別的峰不見了
(1)色譜柱被污染或失效；
(2)氣路系統(tǒng)被污染(如氣源純度低，過濾器失效)；
(3)注射墊漏氣；
(4)注射針密封性差；
(5)數(shù)據(jù)處理的判峰參數(shù)，如：半峰寬和斜率設置偏大；
(6)進樣方法不對；
“鬼峰”(怪峰，多余峰，記憶峰)
(1)上一次進樣的高沸點雜質峰自然流出；
(2)載氣不純過濾器失效使低沸點的污染物冷凝在色譜柱頭，程序升溫時正常流出；
(3)注射墊未經老化或無隔墊清洗而出的污染峰；
(4)汽化溫度太高或嚴重污染至使樣品某些組分分解；
(5)樣品某些組分與被污染固定相產生了作用；
(6)色譜柱溫度太高固定相分解；
(7)使用了被污染的注射針( 本身不合格，手摸或進過易污染的樣品)；
(8)樣品予處理不完善或用錯溶劑；
(9)樣品中有空氣；
(10)TCD、ECD等密封性差(漏氣)；
(11)電源不穩(wěn)，對控溫或放大器有不良影響；
(12)色譜柱堵塞物使用不當，如玻璃棉未按要求進行處理。
文章（文字）來源：網(wǎng)絡
